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PCB線(xiàn)路板無(wú)鉛焊接的隱憂(yōu):焊環(huán)浮裂與引腳錫須

發(fā)布時(shí)間:2021-10-06 21:20:06

前面一篇介紹了pcb線(xiàn)路板無(wú)鉛焊接中任意出現的焊點(diǎn)空洞,本文將介紹電路板無(wú)鉛焊接中的另外兩種隱憂(yōu):焊環(huán)浮裂與引腳錫須。

SAC所形成的焊點(diǎn)與PCB之間還將存在更多的應力,而此應力又將是波焊后其焊點(diǎn)填錫浮離的主要成因。

零件腳必須先要做上可焊性之皮膜,對于無(wú)鉛製程之實(shí)戰性皮膜而言,目前只有電鍍純錫層可用。焊接后全未沾錫的上半引腳,其后續老化過(guò)程中一定會(huì )生須,而且還都是危險的長(cháng)須;連高錫成份的焊點(diǎn)本身也會(huì )生出矮胖的短須,程度上自不如前者那麼嚴重。從多量的焊點(diǎn)切片看來(lái),無(wú)鉛焊接在空洞方面,的確要比目前的有鉛焊接要來(lái)得嚴重。而波焊后焊點(diǎn)從銅環(huán)上的浮離,或連帶孔環(huán)也從基材上翹起,都極少在有鉛焊接中發(fā)生過(guò)。至于錫須則幾乎已成為高純度鍍錫與焊錫難以避免的宿命,本文將針對此二項與焊接有關(guān)的缺點(diǎn)加以探討,期能在排解困難與預防方面有所助益。

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有鉛共熔合金之波焊時(shí),倘若錫池中發(fā)生銅污染時(shí),則其IMC某些位置也會(huì )朝向焊點(diǎn)射出Cu6Sn5的針狀結晶,對焊點(diǎn)強度亦將形成負面影響。


一、焊環(huán)浮裂

無(wú)鉛波焊(例如S A C 305)約在260一2 6 5℃的峰溫下,經(jīng)歷約4秒以上的焊接反應,其隨后的固化過(guò)程中,經(jīng)常會(huì )發(fā)生:

(1)填錫主體自銅環(huán)表面的浮起,而且板子上下兩面焊環(huán)都會(huì )浮裂;

(2)甚至連帶銅環(huán)也一併自樹(shù)脂基材表面上浮離(Pad Lifting) ;

(3)插腳焊點(diǎn)填錫的撕裂(Hot Tearing) ;等三種差異不大的劣質(zhì)焊接情形。


(一)、鉛污染與含鉍焊料之填錫浮起

當進(jìn)行無(wú)鉛焊接時(shí),在焊料、零件腳、與焊墊等三種參與成員中,都必須要達到全部無(wú)鉛才行。否則任何一方面含有鉛量時(shí),都將會(huì )造成銅錫介面互熔結合處的不牢,進(jìn)而發(fā)生固化后容易開(kāi)裂的“鉛污染”負面效應。此乃由于無(wú)鉛焊點(diǎn) 。中一旦出現少許的鉛份,則焊接反應的錫銅I M C產(chǎn)生過(guò)程中,鉛會(huì )加速的朝介面移動(dòng),進(jìn)而妨礙了Cu6Sn5,良性IM C的生成,以致無(wú)法形成強力的焊點(diǎn)。

此點(diǎn)與含鉍焊料出現的“鉍裂”(B i s m u t h S e g r e g a t i o n)在機理上頗為相似,所差異處只是后者液態(tài)焊點(diǎn)中,少許離群的鉍量,卻是出自S n/B i~卻的枝狀固體時(shí),被該固體所趕出在外的游離份子,進(jìn)而朝向銅墊表面移動(dòng)并阻止了Cu6Sn5的形成,亦經(jīng)常發(fā)生“填錫體”(Fillet)與銅面的分離。


其次由于無(wú)鉛焊接的高溫與長(cháng)熱,造成Cu6Sn5層的增厚(一般正常I M C只有2-3μm),此種銅層大幅流失的現象,很容易在切片上看到。I M C太厚了其結合強度與后續使用壽命當然也隨之減少。


(二)、銅環(huán)浮離(Pad Lifting)

當焊環(huán)寬度變窄與板厚增大時(shí),其焊后冶卻收縮的過(guò)程中,會(huì )見(jiàn)到焊料在XY方面的熱脹系數(CTE)超過(guò)板材,而板材卻又在Z方向的CTE大于焊料;兩種惡勢力的合作下,難免將造成銅環(huán)自基材表面的浮離。此種遭受強大熱應力(Thermal Stress)而發(fā)生的浮環(huán)異常,早巳在業(yè)界時(shí)有發(fā)生并不稀奇。

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(三)、焊點(diǎn)撕裂

凡焊料的組成份(C O mp O S it i 0 n)偏離其共熔合金組成者(Eut e C t i C A 11 O y),則冷卻固化中都會(huì )出現對強度不利的漿態(tài)(P a S ty Ran g e)。此種危險的時(shí)段中,一旦輸送中又發(fā)生震動(dòng)時(shí),其焊點(diǎn)結晶組織中就會(huì )存在微裂,其外表也經(jīng)常呈現結晶粗糙不平滑之皺紋。且事后的老化(A g i n g)將更令其微隙持續劣化而變成巨裂。無(wú)鉛焊料S A C的三元合金,連原始配方都很難達到共熔組成,何況是量產(chǎn)中不斷受到銅份的滲入,要想完全避免焊點(diǎn)之撕裂,其實(shí)并不容易。尤其某些產(chǎn)品還要進(jìn)行多次焊接,完全保證不裂當然就難上加難了。


二、引腳錫須
零件腳電鍍純錫后,其皮膜會(huì )逐漸冒出單晶式的錫原子長(cháng)須,此種異?,F象早在1940年代即已出現在文獻中。后來(lái)197 0年間美國太空總署(NA S A)某人造衛星中之關(guān)鍵元件,發(fā)生因錫須而失效的嚴重災情時(shí),才引起世人對錫須的認知。其實(shí)不只是電鍍純錫層會(huì )冒出很長(cháng)的錫須(2 50μm以上),連高錫量的無(wú)鉛焊料(含S n 9 5%以上),也會(huì )長(cháng)出不太危險的粗短錫錐或錫樁,只有加入重量比1 O%以上的鉛量后,錫須才不再發(fā)生。
且由于無(wú)鉛焊料沾錫時(shí)間(wetting Time)較長(cháng)以致動(dòng)作遲緩,進(jìn)而造成接觸角太大,常使得焊墊邊緣發(fā)生露銅。且無(wú)鉛焊點(diǎn)也因加速冷卻下經(jīng)常出現撕裂,下二圖即為典型的實(shí)例。
左爲無(wú)鉛焊接之墊面外緣露銅,右爲無(wú)鉛焊焊點(diǎn)被拉裂之俯視外觀(guān)。


三、結語(yǔ)
無(wú)鉛焊接在政治壓力與商業(yè)利益交織下,目前已成為smt貼片加工廠(chǎng)家勢不可擋必將到來(lái)到業(yè)界的大革命。所有生產(chǎn)P C B之廠(chǎng)商與P C B A之組裝業(yè)者,都將會(huì )蒙受極大的災難。而此二業(yè)界也多半集中在亞洲,臺灣與中國大陸尤其是首當其衝。屆時(shí)無(wú)窮的煩惱必將傷透無(wú)盡的腦筋,最好還是先做好心理的準備,以?xún)嵙繙p少可能的傷害。



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